27-03-2009, 00:00
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej
ul. Wołoska 141 141,02-507 Warszawa
tel. 022 2348729, 2348741
fax. 022 2348514
e-mail: [email protected]
Warszawa: Przenośny mikroskop metalograficzny z możliwością obserwacji w trybie stereoskopowym
Numer ogłoszenia: 80132 - 2009; data zamieszczenia: 27.03.2009
OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy: zamówienia publicznego.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej , ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO: Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Przenośny mikroskop metalograficzny z możliwością obserwacji w trybie stereoskopowym.
II.1.2) Rodzaj zamówienia: dostawy.
II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia: Przenośny mikroskop metalograficzny z możliwością obserwacji w trybie stereoskopowym wyposażony musi być w: -kamerę CCD (matryca minimum 15 milionów pixeli); -układ optyczny zapewniający uzyskiwanie powiększeń w zakresie nie mniejszym niż 50 do 500x; -oświetlacz zewnętrzny z światłowodem przekazującym światło do głowicy optycznej. Musi posiadać możliwość: -obserwacji mikrostruktury materiału w trybie metalograficznym (jasne i ciemne pole); -obserwacji defektów warstw wierzchnich w trybie stereoskopowym; -zapis obrazów na twardym dysku lub CD; -przesyłania danych (uzyskanych obrazów mikrostruktury) za pomocą Internetu; -odwzorowywania obrazów w trybie 3D (ocena wielkości mikrowzniesień i mikrodepresji badanych powierzchni); -korektę ostrości obrazów o złożonej geometrii powierzchni (zróżnicowanej wysokości elementów strukturalnych na powierzchni), poprzez automatyczne składanie kilku zdjęć na siebie. Mikroskop powinien umożliwiać ocenę jakości powierzchni powłok, głównie pod kątem detekcji nieciągłości materiału, defektów itp. , również w przypadku obserwacji prowadzonych na próbkach relatywnie dużych, w warunkach polowych bądź braku idealnej płaskości powierzchni, niezbędnej w przypadku klasycznych mikroskopów świetlnych. Minimalny okres gwarancji na oferowane urządzenie: 12 miesięcy..
II.1.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 38.51.32.00-6.
II.1.5) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie.
II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie.
II.1.7) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie.
II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA: Zakończenie: 30.06.2009.
SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM
III.1) WARUNKI DOTYCZĄCE ZAMÓWIENIA
III.2) WARUNKI UDZIAŁU
SEKCJA IV: PROCEDURA
IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA
IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony.
IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT
IV.2.1) Kryteria oceny ofert: najniższa cena.
IV.2.2) Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie.
IV.3) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
IV.3.1) Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/.
Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).
IV.3.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert: 29.04.2009 godzina 11:30, miejsce: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).
IV.3.5) Termin związania ofertą: okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert).